2. 1 Аналитическая электронная микроскопия и способы характеризации материалов
2. 2 Полупрозрачный электрический микроскоп с компьютерным управлением и управление данными анализа
Заключение
Перечень литературы
3
5
7
11
13
18
20
21
Выдержка
Введение
На протяжении долгого времени человек жил в окружении невидимых существ, употреблял продукты их жизнедеятельности(к примеру, при выпечке пища из кислого теста, приготовлении причина и уксуса), мучился, когда эти существа являлись факторами заболеваний либо омрачали запасы еды, однако не подозревал об их пребывании [1]. Не подозревал поэтому, что не лицезрел, а не лицезрел поэтому, что габариты данных микро существ лежали немало ниже такого предела видимости, на который способен человечий глаз. Понятно, что человек с обычным зрением на рациональном расстоянии(25–30 см)может распознать в облике точки объект размером 0,07–0,08 мм. Наименьшие объекты человек увидеть не может. Это определяется чертами строения его органа зрения [2].
Примерно в то же время, когда началось изучение космоса с поддержкой телескопов, были изготовлены 1-ые пробы открыть, с поддержкой линз секреты микромира. Этак, при археологических раскопках в Старом Вавилоне выискали двояковыпуклые линзы — наиболее обыкновенные оптические приборы. Линзы были сделаны из отшлифованного горного хрусталя. Разрешено полагать, что с их изобретением человек сделал 1-ый шаг на пути в микромир.
Содержание развития микроскопии в данный момент актуальна как никогда. В настоящее время во всем мире уделяется все растущее интерес изучениям атомной структуры вещества приминительно к творению новейших полупроводниковых материалов, наноструктур, углеродных нанотрубок, металлов и сплавов, алмазных пленок, керамик и устройств на их базе. Сознание их строения на наноуровне, а еще анализ разных парметров, подключая рубежа раздела и электрические связи в кристаллических сетках, какие во многом определяют прочностные и электрические характеристики получаемых новейших материалов, воздействуют как на отбор технологии получения данных материалов, этак и на использование в разных устройствах.
Неизменный прогресс в развитии методической и приборной базы аналитической просвечивающей электронной микроскопии дозволяет не давать наиболее передовые позиции таковым новым способам, как атомно-силовая микроскопия, Оже-микроанализ, РФЭС ВИМС, ЭПР, и разным рентгеновским спектральным способам изучения(к примеру, EXAFS-спектроскопии)[3].
Целью предоставленной работы является представить целый путь развития микроскопии вплоть по реального времени. Разглядеть эволюцию устройств и способов их применения.
Литература
1 Shindo D. Hiraga К(1998)High-resolution elec-tron microscopy for materials science. Springer, Tokyo
2. Wentzel G(1927)Zwei Bemerkunger Liber die Zer~streuung Korpuskuiarcr Strahlen als Bcugungser-scheinung. Z Physik 40:590
3. Mott NF, Massey HWW(1965)The theory of atomic collision. Oxford University Press, Oxford
4. Cosslett VE, Thomas RN(1964)Multiple scattering of 5-30 keV electrons in evaporated metal films. I. Total transmission and angular distribution. Br JAppi Phys 15:883
5. McKJnley WA, Freshbach H(1948)The Coulomb scattering of relativistic electrons by nuclei. Phys Rev 74:1759
6. Powell CJ(1976)Cross sections for ionization of inner-shell electrons by electrons. Rev Mod №f\' *S:33
7. Powelt CJ(1976)Use of Monte Carlo calculations. National Bureau of Standards Special Publication 460. NBS, Washington, DC, p. 97
8. Goldstein JI, Costley JL, Lorimer GW, Reed SJB(1977)Quantitative X-ray analysis in the electron microscope. В сборнике: Johari О(ed)Proceed-ings of the workshop on analytical electron microscopy, scanning electron microscopy, Chicago, vol. К p, 315
9. Lee C-W, Kidu S, Oikawa T, Shindo D(2001)Estimation of electron beam broadening. Proceedings Microscopy and Microanalysis, Long Beach, California, vol 7. Springer, New York, p204
10. Shindo D, Hiraga K, Hirabayashi M, Kikuchi M, Syono Y, Furuno S, Hojou K, Soga T, Otsu H(1989)In situ observation of oxygen K-edge tine struc ture of YBa2Cu3G7 by EELS. J Electron Microsc 38:155
11. Shindo D, Hiraga K, Hirabayashi M, Kobayashi N, Kikuchi M, Kusaba K, Syono Y. Muto Y( 1988)Analytical electron microscopic study of high-T. superconductor Bi-Ca-Sr-Cu-O Jpn J. Appl. Phys. 27:L2048
12. Taniyama A, Shindo D, Hiraga K, Oikawa % Kersker M(1997)Database of electron microscope images on the World Wide Web. In: Proceedings Microscopy and Microanalysis, Cleveland. Springer, New York, p. 1105
13. Shindo D, Ikematsu Y, Lim S-H, Yonenaga I(2000)Digital electron microscopy on advanced materials. Mater Characterization 44:375
14. Пилянкевич А. Н. , Климовицкий А. М. Электрические микроскопы, Киев. «Техшка», 1976, 168 с.
15. Сушкин Н. Г. Электрический микроскоп, М. 1949. – 274 с.
Введение
На протяжении длительного времени человек жил в окружении невидимых существ, использовал продукты их жизнедеятельности (например, при выпечке хлеба